NANOscientific
Symposium Korea 2026
20 - 21 August, 2026 | Park Systems HQ, Gwacheon, South Korea
NANOscientific Symposium Korea 2026
NANOscientific Symposium Korea [NSS Korea]는 국내 나노과학 및 나노기술 분야의 전문가들이 한자리에 모여 다양한 응용기술의 최신 동향과 연구 성과를 공유하는 전문 심포지엄입니다.
특별히 올해는 지난해에 이어 Park Systems Korea User Meeting [파크시스템스 국내 유저 미팅]과 동시 개최하여 더욱 풍성한 교류와 네트워크의 장이 될 것으로 기대됩니다. 또한 원자현미경 분야를 넘어, 나노기술응용 및 혁신분야로 주제를 확장하여 보다 폭넓은 논의와 소통의 기회를 제공할 예정입니다.
특별히 올해는 지난해에 이어 Park Systems Korea User Meeting [파크시스템스 국내 유저 미팅]과 동시 개최하여 더욱 풍성한 교류와 네트워크의 장이 될 것으로 기대됩니다. 또한 원자현미경 분야를 넘어, 나노기술응용 및 혁신분야로 주제를 확장하여 보다 폭넓은 논의와 소통의 기회를 제공할 예정입니다.
DAY 1: 8월 20일(목)
국내 나노과학기술 분야에서 파크시스템스 장비를 활용하는 저명한 연사들의 강연과 연구자들 간 네트워크의 장
DAY2: 8월 21일(금)
장비시연 프로그램: 파크시스템스의 다양한 나노 계측 및 광학 측정 솔루션을 직접 확인할 수 있는 장비 시연 프로그램을 운영
■ 본 프로그램은 Research AFM, Industrial AFM, Optical Measurement Solutions 분야의 총 8개 토픽으로 구성되며, 각 세션마다 동일한 시연 프로그램이 동시에 운영됩니다. 참석자는 관심 있는 토픽을 선택하여 1인당 최대 3개 토픽까지 신청할 수 있습니다. 각 토픽은 담당 엔지니어가 대표 시료를 직접 측정하며, 해당 모드의 주요 원리와 측정 방법, 활용 사례를 소개하는 방식으로 진행됩니다.
■ 참석대상: 1일차 심포지엄 참석자들에 한해 신청 가능 (선착순 50명 이내)
■ 주요 토픽
Research AFM
• NX1 - Lattice imaging (NX1)
• Electrical Mode: DFRT-PFM (FX40)
• Electrical Mode: HD-KPFM (NX10)
• Mechanical mode: Fast PinPoint (FX200)
• Nano-IR (FX300 IR or FX40 IR)
Industrial AFM
• Automated AFM for in-line metrology solutions (NX-Wafer)
Optical Measurement Solutions
• ISE (Imaging Spectroscopic Ellipsometry): Thickness Mapping of Patterned Multi-Layer Samples (EP4)
• DHM (Digital Holographic Microscope): 3D Optical Measurement (Lyncee R1)
※ 각 세션에서는 총 8개의 토픽이 동시에 진행됩니다.
※ 참석자는 세션별로 1개 토픽을 선택하여 최대 3개 토픽까지 신청할 수 있습니다.
※ 모든 세션에서 동일한 내용의 시연 및 교육이 진행됩니다. (총 3회 반복 운영)
※ 신청 인원이 적은 토픽은 운영되지 않거나 다른 토픽과 통합될 수 있습니다.
※ 신청자가 많은 토픽은 원활한 참여를 위해 동일 토픽을 추가 편성하여 별도 그룹으로 운영할 수 있습니다.
※ 프로그램은 신청 현황 및 운영 여건에 따라 일부 변경될 수 있습니다.
■ 본 프로그램은 Research AFM, Industrial AFM, Optical Measurement Solutions 분야의 총 8개 토픽으로 구성되며, 각 세션마다 동일한 시연 프로그램이 동시에 운영됩니다. 참석자는 관심 있는 토픽을 선택하여 1인당 최대 3개 토픽까지 신청할 수 있습니다. 각 토픽은 담당 엔지니어가 대표 시료를 직접 측정하며, 해당 모드의 주요 원리와 측정 방법, 활용 사례를 소개하는 방식으로 진행됩니다.
■ 참석대상: 1일차 심포지엄 참석자들에 한해 신청 가능 (선착순 50명 이내)
■ 주요 토픽
Research AFM
• NX1 - Lattice imaging (NX1)
• Electrical Mode: DFRT-PFM (FX40)
• Electrical Mode: HD-KPFM (NX10)
• Mechanical mode: Fast PinPoint (FX200)
• Nano-IR (FX300 IR or FX40 IR)
Industrial AFM
• Automated AFM for in-line metrology solutions (NX-Wafer)
Optical Measurement Solutions
• ISE (Imaging Spectroscopic Ellipsometry): Thickness Mapping of Patterned Multi-Layer Samples (EP4)
• DHM (Digital Holographic Microscope): 3D Optical Measurement (Lyncee R1)
※ 각 세션에서는 총 8개의 토픽이 동시에 진행됩니다.
※ 참석자는 세션별로 1개 토픽을 선택하여 최대 3개 토픽까지 신청할 수 있습니다.
※ 모든 세션에서 동일한 내용의 시연 및 교육이 진행됩니다. (총 3회 반복 운영)
※ 신청 인원이 적은 토픽은 운영되지 않거나 다른 토픽과 통합될 수 있습니다.
※ 신청자가 많은 토픽은 원활한 참여를 위해 동일 토픽을 추가 편성하여 별도 그룹으로 운영할 수 있습니다.
※ 프로그램은 신청 현황 및 운영 여건에 따라 일부 변경될 수 있습니다.
09:00 - 09:50
등록
09:50 - 10:00
개회 및 환영사
이윤기 본부장
파크시스템스 국내사업부
10:00 - 10:30
기조강연: 반도체 기술의 트랜드와 MI 기술의 방향
이병호 박사
파크시스템스 Senior Fellow (前 SK 하이닉스 Fellow)
10:30 - 10:55
초청발표: AI-driven AFM for rapid exploration of material properties
김윤석 교수
성균관대학교 신소재공학과
10:55 - 11:05
휴식(Coffee Break)
11:05 - 11:30
초청 발표: Switchable Plasmonic Nearfields in Conducting Polymer Nanoantennas Visualized by Photo-induced Force Microscopy
강현구 교수
충북대 물리학과
11:30 - 11:55
초청발표: 유무기 페로브스카이트 태양전지의 첨단 물성 연구와 반도체 소재 국소 화학조성 분석 - PiFM의 활용 연구
김효정 교수
부산대학교 나노반도체 공정ᆞ장비 계약학과
11:55 - 12:20
초청발표: Spectroscopic origin of photo-induced force
장정훈 박사
한국표준과학연구원
12:20 - 12:40
파크시스템스 발표
이윤경 부장
파크시스템스 Research Product Marketing
12:40 - 13:40
점심(Lunch Buffet)
13:40 - 14:05
초청발표: TBD
전용주 박사
삼성전자 반도체연구소
14:05 - 14:30
초청발표: TBD
권광민 박사
SK 하이닉스 기반기술센터 R&D
14:30 - 14:50
파크시스템스 발표
조성준 부장
파크시스템스 Industrial Product Marketing
14:50 - 15:00
휴식
15:00 - 15:25
초청발표: Electrofludic Integration of Nano LEDs for Mobile and AR/VR Displays
김재균 교수
한양대학교 반도체디스플레이공학과
15:25 - 15:50
초청발표: Artificial Intelligence in Digital Holographic Imaging: Technical Basis and Biomedical Applications
문인규 교수
DGIST 로봇 및 기계전자공학과
15:50 - 16:10
파크시스템스 발표
김성오 팀장
파크시스템스 Optical Application Technology
16:10 - 16:20
휴식
16:20 - 16:40
연구원 발표: AFM applications in 3D semiconductor integration
이진형 연구원
IBS 양자나노과학연구단
16:40 - 17:00
연구원 발표: Unveiling the origin of electrical switching through advanced AFM techniques
이용준 연구원
KAIST 양자에너지소자연구실
17:00 - 17:20
연구원 발표: Probing Nanoscale Light–Matter Interactions in Low-Dimensional Materials Using AFM-Based Near-Field Microscopy and Simulation
한재원 연구원
성균관대 나노물성연구실
17:20 - 17:40
경품 추첨 및 폐회
17:40 - 20:00
만찬
10:00 - 11:00
Session 1 – 장비 시연 프로그램
11:10 - 12:10
Session 2 – 장비 시연 프로그램
12:10 - 13:10
점심식사 및 휴식
13:30 - 14:30
Session 3 – 장비 시연 프로그램
Location
Park Systems HQ, Gwacheon, South Korea
Organizer
